万分之一内校分析天平GL-C

万分之一内校分析天平GL-C系列  

仪器特点：
1、超大带背光液晶显示屏，使操作者视觉更柔和、清晰。
2、人性化设计、结构新颖、五面全透明玻璃防风罩。
3、采用新一代电磁平衡式称量传感器，保证了产品的高精度。
4、具有全自动故障检测，线性四点校准，超载保护等应用程序。
5、采用的超大数字集成型线路板，是产品精度的保障。

全自动内校电子分析天平GL1004C 仪器参数：
称量范围:0-100g
可读性精度:0.1mg
称盘尺寸:Φ80mm
净 重:8kg
外 形 尺 寸:350×215×340mm
包 装 尺 寸:480×375×515mm
工作空间高度:240mm
校准方式:内部校准

全自动内校电子分析天平GL1204C 仪器参数：
称量范围:0-120g
可读性精度:0.1mg
称盘尺寸:Φ80mm
净 重:8kg
外 形 尺 寸:350×215×340mm
包 装 尺 寸:480×375×515mm
工作空间高度:240mm
校准方式:内部校准

全自动内校电子分析天平GL2004C 仪器参数：
称量范围:0-200g
可读性精度:0.1mg
称盘尺寸:Φ80mm
净 重:8kg
外 形 尺 寸:350×215×340mm
包 装 尺 寸:480×375×515mm
工作空间高度:240mm
校准方式:内部校准

全自动内校电子分析天平GL2204C 仪器参数：
称量范围:0-220g
可读性精度:0.1mg
称盘尺寸:Φ80mm
净 重:8kg
外 形 尺 寸:350×215×340mm
包 装 尺 寸:480×375×515mm
工作空间高度:240mm
校准方式:内部校准